In the Linux kernel, the following vulnerability has been resolved:
soc: samsung: exynos-pmu: fix use-after-free of interrupt generator node
The setup_cpuhp_and_cpuidle() parses the device tree node for the
interrupt generation block via of_parse_phandle() and decrements its
reference count using of_node_put() immediately after fetching the resource
address. However, later the intr_gen_node pointer is passed into
of_syscon_register_regmap().
Fix this by declaring intr_gen_node with __free() and removing
of_node_put().
CVE-2026-98415
NONE
EPSS 0.21%
Обновлено 19 октября 2026
Samsung
https://git.kernel.org/stable/c/164313e24cb0f51528bc2099c5564174ead11d8a
416baaa9-dc9f-4396-8d5f-8c081fb06d67
https://git.kernel.org/stable/c/4450102d6aa2a85b1d2d8610920fcbe45eb0ef69
416baaa9-dc9f-4396-8d5f-8c081fb06d67
https://git.kernel.org/stable/c/4dd1999783d7d12434006289338373e49492dc96
416baaa9-dc9f-4396-8d5f-8c081fb06d67
Сводка
CVE ID
CVE-2026-98415
Опубликовано
14 октября, 2026
Поставщик
Samsung
Уровень угрозы
NONE
Вероятность атаки (EPSS)
Шанс использования
0.21%
Вероятность использования в ближайшие 30 дней
Уровень риска:
Опаснее 10.2% всех уязвимостей
Стандартный цикл обновлений
Ущерб
Минимальное воздействие
Ссылка
Перейти к источнику